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Microscopie à sonde à balayage : ingénierie à l'échelle atomique par forces et courants par annonce
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Dernière mise à jour : mai 19, 2024 02:54:47 HAEAfficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications
Caractéristiques de l'objet
- État
- ISBN-13
- 9781441923066
- Book Title
- Scanning Probe Microscopy
- ISBN
- 9781441923066
- Subject Area
- Technology & Engineering, Science
- Publication Name
- Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
- Publisher
- Springer New York
- Item Length
- 9.3 in
- Subject
- Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems
- Publication Year
- 2010
- Series
- Nanoscience and Technology Ser.
- Type
- Textbook
- Format
- Trade Paperback
- Language
- English
- Item Weight
- 16.1 Oz
- Item Width
- 6.1 in
- Number of Pages
- Xiv, 282 Pages
À propos de ce produit
Product Information
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today's simulation techniques and gives examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations used in today's research, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the instrument's operation is changed by materials properties; theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.
Product Identifiers
Publisher
Springer New York
ISBN-10
1441923063
ISBN-13
9781441923066
eBay Product ID (ePID)
109176802
Product Key Features
Number of Pages
Xiv, 282 Pages
Language
English
Publication Name
Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Publication Year
2010
Subject
Nanoscience, Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems
Type
Textbook
Subject Area
Technology & Engineering, Science
Series
Nanoscience and Technology Ser.
Format
Trade Paperback
Dimensions
Item Weight
16.1 Oz
Item Length
9.3 in
Item Width
6.1 in
Additional Product Features
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
22
Number of Volumes
1 Vol.
Illustrated
Yes
Dewey Decimal
502.82
Lc Classification Number
Ta418.5-.84
Table of Content
The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.
Copyright Date
2006
Description de l'objet du vendeur
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Lieux exclus :
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