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Frontiers dans les tests électroniques : conceptions technologiques nanométriques : haute qualité...
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Numéro de l'objet eBay :362940951927
Dernière mise à jour : nov. 10, 2022 01:43:23 HNEAfficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications
Caractéristiques de l'objet
- État
- ISBN
- 9780387764863
- EAN
- 9780387764863
- Publication Name
- Nanometer Technology Designs : High-Quality Delay Tests
- Item Length
- 9.3in
- Publisher
- Springer
- Publication Year
- 2007
- Series
- Frontiers in Electronic Testing Ser.
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Item Height
- 0.3in
- Item Width
- 6.1in
- Item Weight
- 22 Oz
- Number of Pages
- Xviii, 281 Pages
À propos de ce produit
Product Information
Adopting new fabrication technologies not only provides higher integration and enhances performance, but also increases the types of manufacturing defects. With design size in millions of gates and working frequency in GHz timing-related defects havv become a high proportion of the total chip defects. For nanometer technology designs, the stuck-at fault test alone cannot ensure a high quality level of chips. At-speed tests using the transition fault model has become a requirement in technologies below 180nm. Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-10
0387764860
ISBN-13
9780387764863
eBay Product ID (ePID)
64176840
Product Key Features
Publication Name
Nanometer Technology Designs : High-Quality Delay Tests
Format
Hardcover
Language
English
Publication Year
2007
Series
Frontiers in Electronic Testing Ser.
Type
Textbook
Number of Pages
Xviii, 281 Pages
Dimensions
Item Length
9.3in
Item Height
0.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
22 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7867-7867.5
Table of Content
Introduction to path delay and transition delay fault models and test methods.- At-speed test challenges for nanometer technology designs.- Low-cost tester friendly design-for-test techniques.- Improving test quality of current at-speed test methods.- Functionally untestable fault list generation and avoidance.- Timing-based ATPG for screening small delay faults.- Faster-than-at-speed test considering IR-drop effects.- IR-drop tolerant at-speed test pattern generation and application.
Copyright Date
2008
Topic
Cad-Cam, Electronics / Circuits / Vlsi & Ulsi, Electronics / Circuits / General, Nanotechnology & Mems, Electronics / General
Dewey Decimal
621.381548
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
22
Illustrated
Yes
Genre
Computers, Technology & Engineering
Description de l'objet du vendeur
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Numéro de l'objet eBay :362940951927
Dernière mise à jour : nov. 10, 2022 01:43:23 HNEAfficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications
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Lieu où se trouve l'objet :
Bangkok, Thaïlande
Expédition :
Monde entier
Lieux exclus :
Case postale, Adresses militaires ou navales, Amérique centrale et Caraïbes, Amérique du Sud, Guam, Protectorats des États-Unis, Russie, Ukraine
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Taxe de vente pour cet objet (362940951927)
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