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Système de mesure de l'épaisseur des plaquettes E+H Metrology MX 152 Siemens PC Win 7 OS

Name: Système de mesure de l'épaisseur des plaquettes E+H Metrology MX 152 Siemens PC Win 7 OS
Brand: E+H METROLOGY
Price: 20546.24 CAD
Availability: InStock

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D'occasion

“Excellent used condition, pulled from working wafer inspection system that was only used for a ”... En savoir plussur l'état

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Numéro de l'objet eBay :295092833286

Dernière mise à jour : nov. 13, 2023 15:31:44 HNEAfficher toutes les modificationsAfficher toutes les modifications

Caractéristiques de l'objet

État: D'occasion

Remarques du vendeur: “Excellent used condition, pulled from working wafer inspection system that was only used for a ... “Excellent used condition, pulled from working wafer inspection system that was only used for a couple of years before the solar company went out of business. No password available for E+H program, otherwise the system is intact as we pulled and pictured it. Conveyor included for reference, would need external controls to run it. This system was integrated into a complete manufacturing line so it will no be plug and play, some software hurdles are likely.”

Country/Region of Manufacture: Germany

MPN: MX 152 MX152 MX-152

Component Type: Measurement System

Brand: E+H METROLOGY

Siemens Rack PC: Simatic IPC647D 6AG4112-2GA31-3XX0

PC Measurement Card1: ATTI-DATA A-D 481823 APCI-3120-16_E+H

PC Measurement Card2: ATTI-DATA A-D 478361 APCI-1500

E+H Control Box: B215, B215, B215, B187, B271, B264 modules

E+H Measurement Head: MX 152

UPC: Does not apply

Description de l'objet du vendeur

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